次世代光ファイバ通信,狙いは400Gビット/秒~1Tビット/秒 ―― Agilent Measurement Forum 2013(AMF 2013)

福田 昭

tag: 組み込み 半導体 実装

レポート 2013年7月17日

 世界最大の計測・検査機器メーカである米国Agilent Technologies社の日本法人アジレント・テクノロジーは,2013年7月9日~10日,顧客向けの技術講演会兼展示会「Agilent Measurement Forum 2013(AMF 2013)」をパシフィコ横浜 アネックスホール(神奈川県横浜市)にて開催した(写真1).

 

写真1 「Agilent Measurement Forum 2013」の会場入口

 

 本イベントは,アジレントが日本の顧客向けにほぼ毎年開催しているもの.参加費は無料(事前登録制)である.


●300点を超える計測器の実物を展示

 会場の中央に四つの技術講演会場があり,その周囲を取り囲むように,廊下に展示ブースが配置されていた.会場入口のすぐ近くには,Androidスマートフォン「Nexus 4」が分解展示されており(写真2),最先端のスマートフォンに詰まっている要素技術とアジレントの提供する計測ソリューションが紹介されていた(写真3写真4).

 

写真2 Androidスマートフォン「Nexus 4」の分解展示(実物)

 


写真3 Androidスマートフォン「Nexus 4」の分解展示(通信関連機能の説明パネル)

 

写真4 Androidスマートフォン「Nexus 4」の分解展示(アプリ関連機能の説明パネル)

 

 展示会場は,ざっと見渡しただけで非常に数多くの計測器が出品されていることが見て取れた.アジレントによると,300点を超える計測器を展示したという.オシロスコープ(写真5)やネットワーク・アナライザ(写真6),スペクトラム・アナライザ(写真7),標準信号源(信号発生器)(写真8)などは各製品のシリーズをまとめて展示しており,全体像を把握しやすくなっていた.

 

写真5 オシロスコープの展示コーナ

 

写真6 ネットワーク・アナライザの展示コーナ

 

写真7 スペクトラム・アナライザの展示コーナ

 

写真8 標準信号源(信号発生器)の展示コーナ

 

 

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