計測装置から歪み補正LSIまで，平面ディスプレイを支える基盤技術が一堂に ―― FPD International 2011

●非接触表面形状計測装置に層断面形状計測機能を追加

　菱化システムは，非接触表面形状計測と層断面形状計測（透明積層体の非破壊計測）の二つの機能を備える計測装置「VertScan 2.0」を展示した（写真6）．本計測装置は「光干渉方式」を採用しており，光学方式では難しかった微細表面粗さの計測や，広い視野でのnmレベルの段差計測が行える．ガラス（透明体）を透過した表面形状計測なども行える．

写真6　菱化システムが展示した「VertScan 2.0」

　一度保存した計測データをブラウザで確認できる「ブラウザ機能」や，実施した解析をコマンド・リストに自動登録する「マクロ機能」などを備えている．また，GUIは日本語になっている．

●鉄や紙，プラスチック，フィルムなどの散乱特性を測定

　サイバネットシステムは，鉄や紙，プラスチック，フィルムなどの散乱特性を測定できる材質散乱測定システム「IS-SA（imagingSphere Surface Appearance）」を展示した（写真7）．開発元は米国Radiant Imaging社．光源の配光測定評価やディスプレイの視野角測定評価，材質などの散乱特性（BRDF/BTDF）評価に利用できる．

写真7　サイバネットシステムが展示した「IS-SA（imagingSphere Surface Appearance）」

　本測定システムは，発光面全体の特性を一度に測定できる．測定時間は10秒弱．外光の影響は受けない．材質本来の特性を調査でき，参照光の位置は任意に変えられる．同社の輝度・照度・色度測定システムである「ProMetric」を受光部に搭載すれば，絶対値を測定可能．

きたむら・としゆき