システム技術者のための測定ワンポイント・テクニック（5） ―― RFIDタグ・カードの共振周波数測定

● シミュレーションで特性を確認する

　図3にシミュレーションによる特性を示します．左上のグラフが周波数特性です．図2に示した実機による測定結果とよく似た特性が，シミュレーションできているのが分かります．このように電磁界シミュレータによるシミュレーションでパターン形状を確認しておくことが，製品の短期開発や試作コスト削減に効果的です．

図3　電磁界シミュレータによる共振点のシミュレーション結果
Microwave Office（米国Applied Wave Research社）を利用

　図2の共振点を拡大したものが図4です．測定に用いたRFIDタグ・カードはICが実装されていないため，20MHzと高い周波数で共振していますが，ICが実装されるとICの容量分によって13.5MHzの実際の使用周波数になります．このときパッケージの浮遊容量も共振周波数を低くしてしまいます．複数の誤差要因を考慮し，最終製品で13.5MHzにしなければならない点が，この製品の難しいところです．

図4　RFIDタグ・カードの共振点

参考・引用＊文献
（1）^* 非接触ICカード技術方式「Felica」，ソニー（株）． http://www.sony.co.jp/Products/felica/pdf/data/FeliCa_J.pdf

つの・とおる　横河電気（株）
＜筆者プロフィール＞
津野 徹．1971年，東海大学通信工学科卒業．1976年，安藤電気計測技術部にて特注測定器の設計に従事．1981年，KENWOOD測定事業部にてオシロスコープの設計に従事．1996年，横河電機にてアナログ半導体テスタの高速高周波モジュールの設計に従事．1998年，横河デザインエンジニアリングにて特注回路設計制作に従事．1999年から横河マニュファクチャアリングにて横河電機技術部のサポート中．