[ keyword： LSI， 計測， EDA ]
Mentor，チップのテスト故障情報を統計的に解析する歩留まり解析ツールを発売
ニュース 2009年12月1日
米国Mentor Graphics社は，LSIチップのテスト故障情報を統計的に解析する歩留まり解析ツール「Tessent YieldInsight」を発売した．同社はこれまで，単独のチップのテスト故障個所をレイアウト・データ上で示すテスト故障診断ツール「Tessent Diagnosis（旧名YieldAssist）」を出荷していた．今回の歩留まり解析ツールは，故障が発生した多数のチップにTessent Diagnosisを適用し，得られた多数のチップのテスト故障の情報を統計的に解析することにより，歩留まり低下の原因を推定する．
本ツールを使うと，実際にチップのパッケージを開いて不具合個所を測定しなくても，歩留まり低下の原因を推定できる．そのため，IDM（Integrated Device Manufacturer）やファウンドリだけでなく，製造/テスト設備を持たないファブレスの半導体メーカでも有効に利用できるという．
同社は，2009年8月にBIST（Built-in Self-test）製品を提供していた米国LogicVision社を買収している．これに伴って，テスト設計関連の製品のブランドを「Tessent」に統一した．
[図1] Tessent YieldInsightの画面例
■価格 |
■連絡先 |
