Virage Logic，BIST機能とリペア機能を備えた90nm，65nmプロセス対応のメモリ・コアを発売

　米国Virage Logic社は，BIST（built-in self-test）機能とリペア機能を備えた90nm，65nmプロセス対応のメモリ・コア「third-generation Self-Test and Repair (STAR) Memory System」を発売した．BISTとは，テスト信号を自動生成する回路をテスト対象に組ン込む技術である．LSIテスタなどを使って外部からテスト信号を入力する必要がなくなり，テスト・コストを引き下げることができる．一方，リペアは，チップ上にあらかじめ予備の回路を組み込んでおき，製造不良が発生したときなどに，その部分を予備の回路に置き換えて機能を回復する技術である．

　同社によると，メモリ・コア，BIST，リペアの三つの技術をいっしょに提供しているIPベンダは少なく，ユーザはそれぞれの技術を別々に調達しているため，回路規模が大きくなったり，むだな工数が発生しているという．

　本メモリ・コアは，90nmや65nmのほか，1.8μmや1.3μmのCMOSプロセスにも対応している．BISTとリペアのための回路，およびメモリ・コアに組み込むECC（error correcting code）回路などを自動生成するツールを用意する．メモリ・ブロック単位のテストにはIEEE1500インターフェースを利用している．