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サン・マイクロシステムズ,RFIDの実証試験施設を東京に開設

 米国Sun Microsystems社の日本法人であるサン・マイクロシステムズは,RFID(radio frequency identification)の実証試験施設「Sun RFIDデザインセンター」を東京に開設し,2004年7月1日から運営を開始する.

 Sun RFIDデザインセンターは11室の試験室を備えている.同社のRFIDに関するパートナ企業のほか,一般のユーザ企業(例えば流通関連企業,展示会関連企業,小売店など)が無償で利用できる.また,パートナ企業(大日本印刷や凸版印刷など)のRFIDタグや読み取り/書き込み端末,同社のソフトウェア,サーバなどの機材を用いて,相互接続性やセキュリティなどの検証も行える.ただし,システム構築などに関する技術的なコンサルタントは有償サービスとなる.

 提供するRFIDタグや読み取り/書き込み端末,ソフトウェアなどは,電子IDタグの標準化・実用化を推進する非営利団体「EPC(Electronic Product Code) global」のEPC(電子製品コード)規格に準拠している.ただし,EPC以外のRFIDタグについても試験を行うことはできるという.

■連絡先
サン・マイクロシステムズ株式会社
TEL: 03-5717-5033
URL: http://jp.sun.com/

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