米国Sun Microsystems社の日本法人であるサン・マイクロシステムズは，RFID（radio frequency identification）の実証試験施設「Sun RFIDデザインセンター」を東京に開設し，2004年7月1日から運営を開始する．
Sun RFIDデザインセンターは11室の試験室を備えている．同社のRFIDに関するパートナ企業のほか，一般のユーザ企業（例えば流通関連企業，展示会関連企業，小売店など）が無償で利用できる．また，パートナ企業（大日本印刷や凸版印刷など）のRFIDタグや読み取り/書き込み端末，同社のソフトウェア，サーバなどの機材を用いて，相互接続性やセキュリティなどの検証も行える．ただし，システム構築などに関する技術的なコンサルタントは有償サービスとなる．
提供するRFIDタグや読み取り/書き込み端末，ソフトウェアなどは，電子IDタグの標準化・実用化を推進する非営利団体「EPC（Electronic Product Code） global」のEPC（電子製品コード）規格に準拠している．ただし，EPC以外のRFIDタグについても試験を行うことはできるという．
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