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WaveCrest，PLL波形を実測・解析可能なタイミング/ジッタ解析用テスタを発売
ニュース 2003年2月17日
米国WaveCrest社は，PLL（phase-locked loop）波形を実測・解析できるソフトウェアを搭載したタイミング/ジッタ解析用テスタ「SIA-3000」を発売した．本測定器を用いると，PLLを解析するうえで重要な減衰比（ダンピング・ファクタ）や固有周波数などを測定できる．
PLLは，一つの基準周波数源から所望の出力周波数を生成する回路である．無線機器や高速ディジタル回路に用いられている．デバイスの高速化に伴って，PLLに高い精度が求められるようになった．従来，PLLの波形解析は回路シミュレータなどで行われていたという．
このほか，サンプリング回数に依存するジッタと依存しないジッタを分離して測定する機能や，ジッタ量をいくつかの周期に渡って測定してFFT処理を施す機能を備えている．通常，オシロスコープのジッタ解析の精度は3σ（ジッタの信頼性を表す．σの係数が大きいほど信頼性が高い）程度だが，本測定器の精度は14σ．Fibre Channelなどの高速インターフェース規格では，14σの信頼性が要求される．
[写真1] SIA-3000の外観
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