Synopsys，同社のスキャン回路挿入ツールやATPGツールと連携して使えるロジックBIST回路挿入ツールを発売

　米国Synopsys社は，同社のスキャン回路挿入ツール「DFT Compiler」やATPG（automatic test pattern generation）ツール「TetraMAX ATPG」と連携して使えるロジックBIST（built-in self-test）回路挿入ツール「DFT Compiler SoCBIST」を発売した．BISTとは，LSIの内部にテスト回路（BISTコア）を埋め込んで，自己診断を行う手法である．同社はスキャン回路挿入ツールやATPGツールでは高い市場シェアを獲得しているが，BIST製品を出荷するのは今回が初めて．

　同社のロジックBISTは「Deterministic Logic BIST」という手法を採用している．これは，いわばBIST技術とATPG技術を組み合わせた手法である．従来のロジックBIST技術では疑似ランダム・パターンを発生してLSIの故障箇所を検出していた．一方，Deterministic Logic BIST技術では，ATPGツールが生成するものと同じテスト・パターンをBISTコアが発生する．そのため，従来のロジックBIST技術を利用した場合よりも高い故障検出率が得られる．また，テスト・パターン・データを圧縮することにより，テスト時間も短くなる．同様の技術は，米国IBM社や米国Mentor Graphics社などがすでに発表している．

　LSIテスタに必要なチャネル数（ピン数）は6～30．アットスピード・テスト（実際の動作速度か，それに近い速度で動かしてテストする方法）やディレイ・テストにも対応できる．ロジックBISTには「X（不定値）の伝搬禁止」という設計上の制約があるが，こうした状態が起こらないように，回路を分断したり，信号値を固定するなどの機能を備えているという．