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ET(Embedded Technology) 2006

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512x384 31K ルネサス テクノロジのブース.
ソフトウェア開発ツール「Sango」のデモンストレーション.
512x341 27K ルネサス テクノロジのブース.
磁界結合を利用したワイヤレスのデバッグ・インターフェースのデモンストレーション.シリコン・チップ上にアンテナを形成し,デバッガに内部の信号変化を伝える.R8Cマイコンを使って試作した.
512x384 26K マクニカのブース.
Cirtified Wireless USBモジュールのデモンストレーション.
512x384 47K サンリツオートメイションのブース.
「遠隔操作IPシステム」のデモンストレーション.
384x512 35K アルファプロジェクトのブース.
SH-4A SH7780評価ボード「AP-SH4A-0A」.
512x384 45K アルファプロジェクトのブース.
SH-4A SH7780を用いたX Window Systemのデモンストレーション.
384x512 29K 北斗電子のブース.
マイコン学習キット「PUPPY2」のデモンストレーション.
512x384 51K
512x384 37K 富士設備工業のブース.
英国LDRA社のソフトウェア・テスト・ツール「Testbed」,「TBrun」のデモンストレーション.
512x384 35K 富士設備工業のブース.
米国T-VEC社のソフトウェア・テスト・ツール「Simulink Tester」のデモンストレーション.
512x384 28K NECエンジニアリングのブース.
特定小電力モジュールを用いたネットワークのデモンストレーション.
512x384 40K 組込みシステム技術協会のブース.
ETEC試験のコーナ.
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