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SEMICON Japan 2004

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オリンパスのブース.
「AnalySIS Fine」のデモンストレーション.ディジタル・カメラ(DP70)から取り込んだ画像の面積などを測定している.測定項目は直線長,重心,輝度,粒子解析など100種類に及ぶ.本ソフトウェアの対応OSはWindows ME/2000/XP.
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