1
2 3 4
5 6 7
8 9 10
11 12 13 14
p
●トラブル・シューティング
いくら設計段階で気をつけても，最初に電源を入れたときから正常に動くとはかぎりません．トラブル・シューティングでは経験がいちばんものを言いますが，USBの認定評価テストの結果
をチェックすることも非常にためになります．表1に USBの信号に関するよくあるトラブルと，考えられる原因を示します．うまく動作しないときには，参考にしてみてください．
|
よく起こるトラブル
|
考えられる原因
|
| ハイスピードまたはフルスピードの送信特性に異常なジッタが見える |
- D+とD−の信号に不正なコモンモード・チョークが付いている
- プリント基板上でノイズのひどいトレースからジッタが加わる
- アナログの電源/グラウンド層がディジタルの電源/グラウンド・ラインから十分に絶縁されていない
ハイスピードまたはフルスピードの送信
|
| ハイスピードまたはフルスピードの送信でEOPが検知されない |
- コモンモード・チョークによってEOPが崩されている
でEOPが検知されない
|
| クロスオーバ電圧が仕様外の値となる |
- D+/D−の信号ラインのインピーダンスが正しくない
- D+/D−の信号ラインの長さの差が大きすぎる
|
| ハイスピード・チャープの立ち上がりの電圧が高すぎる |
- +3.3VのDC電源が+5VのATA信号などからの漏れによって高くなっている．
VCCを3.3Vにクランプする電圧レギュレータを使ったり，VCCとGNDの間に1.5kWの抵抗器を入れたりする
|
| 受信側の感度が低すぎる |
- アナログ側の電源ノイズが多すぎる
- D+/D−の信号ラインの下のグラウンドに隙間がある
- コモンモード・チョークによって感度が劣化している
|
〔表1〕 USB信号のトラブル・ シューティング
Michael M. Abraham
David Luke
米国Cypress Semiconductor社
◆筆者プロフィール◆
Michael M. Abraham．2000年，米国Brigham Young University卒業．コンピュータ工学専攻．同年，In-System
Design社に入社．同社は2001年9月Cypress Semiconductor社が買収した．現在，日本や米国の大手電機メーカをはじめ，数多くの顧客のためのプリント基板開発に携わっている．
David Luke．1991年，米国Brigham Young University卒業．電気工学と日本語を専攻．1993年，電気工学修士号を取得．米国Hewlett-Packard社を経て，1995年にIn-System
Design社に転職．USB-IFのMass Storage Class Working Groupの会長を務めている．現在７個目のUSB対応LSIの設計を手掛けている．
