Mentor,ﾁｯﾌﾟのﾃｽﾄ故障情報を統計的に解析する歩留まり解析ﾂｰﾙを発売
米国Mentor Graphics社は,LSIﾁｯﾌﾟのﾃｽﾄ故障情報を統計的に解析する歩留まり解析ﾂｰﾙ｢Tessent YieldInsight｣を発売した．同社はこれまで,単独のﾁｯﾌﾟのﾃｽﾄ故障個所をﾚｲｱｳﾄ･ﾃﾞｰﾀ上で示すﾃｽﾄ故障診断ﾂｰﾙ｢Tessent Diagnosis(旧名YieldAssist)｣を出荷していた．今回の歩留まり解析ﾂｰﾙは,故障が発生した多数のﾁｯﾌﾟにTessent Diagnosisを適用し,得られた多数のﾁｯﾌﾟのﾃｽﾄ故障の情報を統計的に解析することにより,歩留まり低下の原因を推定する．
本ﾂｰﾙを使うと,実際にﾁｯﾌﾟのﾊﾟｯｹｰｼﾞを開いて不具合個所を測定しなくても,歩留まり低下の原因を推定できる．そのため,IDM(Integrated Device Manufacturer)やﾌｧｳﾝﾄﾞﾘだけでなく,製造/ﾃｽﾄ設備を持たないﾌｧﾌﾞﾚｽの半導体ﾒｰｶでも有効に利用できるという．
同社は,2009年8月にBIST(Built-in Self-test)製品を提供していた米国LogicVision社を買収している．これに伴って,ﾃｽﾄ設計関連の製品のﾌﾞﾗﾝﾄﾞを｢Tessent｣に統一した．
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ﾒﾝﾀｰ･ｸﾞﾗﾌｨｯｸｽ･ｼﾞｬﾊﾟﾝ株式会社
TEL:03-5488-3035
E-mail:mktg_mgj@mentor.com
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